第17回世界非破壊試験会議（2008年）

9月 23, 2008
2008 17th World Conference on Nondestructive Testing

Spellman High Voltage Electronics Corp.およびSpellman High Voltage (SIP) Co. Ltd.は、2008年10月25日～28日の期間、中国上海市の上海展覧中心で開かれる第17回世界非破壊試験会議に出展する意向を発表しました（ブースC355）。

 

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